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单元器件测量和成像验证

根据用户对芯片表面电极结构及电极材料需求,可进行微纳加工及测试服务,包括兆声清洗、高精度光刻、电极沉积、湿法刻蚀、划片、线绑定等工作,为成像芯片的加工及制备提供工艺及技术基础。同时公司具有二维/三维表面轮廓仪、傅里叶红外光谱仪、光学显微镜等测试设备,可对客户定制芯片进行工艺质量控制,确保成像芯片加工质量及性能要求。

产品参数
产品特点
IV、IT数据测试,器件的光谱被表征
单像素扫描成像,材料光谱成像效果预测
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